設備

FACILITIES

保有設備・備品

FACILITIES & EQUIPMENT

お客様の開発のお手伝いをするとともに、量産化へのお手伝いもいたします。
高性能レーザの開発・製造に必要なクリーンルーム等の設備や金属加工、半導体基板加工などの各種加工設備を有しております。

各種検査装置
工作機器

設備・備品

レーザ開発(光学測定・解析)

電気・電子回路・機構開発(設計・測定・評価)

光スペクトラムアナライザAQ6374E-10-L1-D/FC/RFC (350~1750 nm)YOKOGAWA
ビームプロファイラCMOS-1201CINOGY
BGP-USB3-SP932Uオフィール
パワーメーターLabMax-Pro SSIMコヒレント
Feld MaxⅡ-TOPコヒレント
SterLite Meter Assyディスプレイオフィール
SterBright Meter Assyディスプレイオフィール
LP10SANWA
パワーセンサーPowerMax-Pro 150F HD(高速/150W)コヒレント
PM300F-50(300W)コヒレント
PM150-50 (150W)コヒレント
50(150)A-BB-26-V1 (50W)オフィール
12A-V1 センサ(12W)オフィール
PD300-3W-V1 SENSOR (3W)オフィール
フォトディテクターDET10A2(200-1100nm)THORLABS
PDA10A2(200-1100nm)THORLABS
PDA25K2(150-550nm)THORLABS
積分球2P4/M φ50mmTHORLABS
ビームトラップBT600(/M) (80W)THORLABS
光端面検査機EC200KC V2D・Tec
チラーARC600-110V AC-ST (600W)AdCol
機構設計SOLIDWORKSダッソー・システムズ
AutoCADオートディスク
回路・PCB設計Altium Designerアルティウム
マイコンMPLAB X IDEマイクロチップ
耐圧計GPT-9903Aテクシオ
オシロスコープMSO46B 4-BW-500(500M/6CH)テクトロニクス
MDO34 3-BW-1000(1G/4CH)テクトロニクス
信号発生器FY6600-60M
温調器UTC200Aアンペール
ワットメーターDW-6163Lutron
ハンディテスターPC7000SANWA
U/DトランスMTE-1600日章工業
サーモグラフィFLIR ONE PROFLIR
卓上ロボットJR3303E-BJジャノメ

加工評価・観察

形状解析レーザ顕微鏡VK-X3000キーエンス
マイクロスコープVHX-8000キーエンス
VHX-X1Fキーエンス
NSH350PC-R(1W)松電舎
赤外線ハイスピードカメラA6751-PHMFLIR

保有加工機(デモ機)

DEMO MACHINES

半導体レーザ(915nm、450nm)

光学系:
同軸ヘッド、温度制御付
用 途:
半田付け、溶着、加熱、溶接等

CWファイバーレーザ(1064nm)

光学系:
同軸ヘッド、温度制御付
用 途:
微細溶接、微細接合等

QCWファイバーレーザ(1064nm)

光学系:
ガルバノ光学系、同軸ヘッド
用 途:
溶接、接合等

短パルス ナノ秒レーザ(1064nm)

光学系:
ガルバノ光学系、同軸ヘッド
用 途:
微細接合、溶接、穴あけ等

超短パルス ピコ秒レーザ(532nm)

光学系:
ガルバノ光学系、精密ステージ
用 途:
薄膜除去等の非熱加工

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